Particle Counter（顆（kē）粒檢測）
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關鍵詞：
半導體設備、半導體工藝
所屬分類：
產品描述（shù）
The instrument uses laser beam scanning for detecting defect contamination and displays scan results in color-coded wafer maps, histograms, and summaries.
產品（pǐn）詢價
