OP5340（膜厚儀）
九一传媒公司制作网站半導體專注於半導體工藝設備的研發、製造、銷售及售後一體化服（fú）務，提供半導體廠商工藝設備的一站式（shì）解決方案。
關鍵詞：
半導（dǎo）體設備、半導體（tǐ）工藝
所屬分類：
產（chǎn）品描述
Opti-Probe 5000 用於非接觸式晶圓膜厚測量，通過測（cè）量單層或多層晶圓（yuán）上薄膜的光學參數（shù）（反射光和建模的薄（báo）膜參數），計算出（chū）薄膜厚度。Opti-Probe 5000 集成了多達六種不同的技術來測量薄膜厚度以及反射率，使用 laser，white light lamp，D2 lamp 等光源進行測量。
產品詢價（jià）
