網站首頁
產品中心
自研產品
新設備代理
再製造設備
關於我們
公司簡介
企業文化
企業（yè）實力
合作品牌
應用領域
招賢納士
新（xīn）聞（wén）中心
公（gōng）司新聞
行業新聞
聯係我們
CONTACT US
半導體
關鍵詞（cí）：
Bright Field（明場缺陷檢測）
關鍵詞：
Therma Wave
技術
納米
微米
Particle Counter（顆（kē）粒檢測）
KLA
製（zhì）程
功能
模塊
Stress（應力檢（jiǎn）測（cè））
關鍵（jiàn）詞：
半導（dǎo）體
發現
效應
材料
CDSEM（線寬檢測）
半（bàn）導體
化合物
分類
ic
最新產品
光纖（xiān）光柵測溫及真（zhēn）空（kōng）檢（jiǎn）測係統
光纖光柵（shān）測溫及真空檢測係統
MIS MARS X8 Plus（15寸大物體非破壞電子束微檢測係統）
Scrubber（尾氣處理（lǐ）設備）
Dark Field（暗場缺陷檢測）
Bright Field（明場缺陷檢測（cè））
Particle Counter（顆粒檢測）
Stress（應力檢測）
Review SEM（複（fù）檢電鏡）
最新新（xīn）聞
探索半導體設備行業動態的未來趨勢
探索半導體設（shè）備的行業解決方案
半導體設備的奧秘與未來（lái）發展
探討半導體工藝的未來行業方案
探索（suǒ）半導體設備（bèi）的多元應用場景
掌握半導體（tǐ）設備使用的注意事項
快速導（dǎo）航
產品（pǐn）中心
新（xīn）設備代理
再製造設備（bèi）
關於我們（men）
應用領（lǐng）域
招賢（xián）納士
新聞中心
公司（sī）地址：無錫市新吳區珠江路95-2號A棟四（sì）樓
電話：0510-88350068
郵箱：inform@kratos.com.cn
Copyright © 2023 九一传媒公司制作网站半導（dǎo）體（無（wú）錫（xī））有限公司（sī）
網站建設：中企動力 無錫 | SEO
