網站首頁
產品中心
自研產品
新設備代理
再製造設備
關於我們
公司簡（jiǎn）介（jiè）
企業文化
企業實力
合作品牌
應用領域
招賢納士
新聞中心
公司新聞
行（háng）業新聞
聯係我們
CONTACT US
技術
關鍵（jiàn）詞：
Bright Field（明場缺（quē）陷檢測）
關鍵詞：
Therma Wave
納米
微米
半導（dǎo）體
最新產品
光纖光柵測溫及真空檢測係統
光纖光柵（shān）測溫及（jí）真空檢測係統
MIS MARS X8 Plus（15寸大物（wù）體非破壞電子束（shù）微檢測係統）
Scrubber（尾氣處理設（shè）備）
Dark Field（暗場缺陷檢測）
Bright Field（明場缺陷（xiàn）檢測）
Particle Counter（顆粒（lì）檢測）
Stress（應力檢測）
CDSEM（線寬檢測）
Review SEM（複檢電鏡）
最新新聞
探索半導體設備行業動態的未來趨勢
探索半（bàn）導體設備的行業解決方案
半導體設備（bèi）的奧秘與未來發展
探討半導體工藝的未來（lái）行業方案
探索半導體設備的多元應用場景
掌握半（bàn）導體設備使用的注意事項
快速（sù）導航
自研產（chǎn）品
招賢納（nà）士
公司地址（zhǐ）：無錫市新吳區珠江（jiāng）路95-2號（hào）A棟四樓
電話：0510-88350068
郵箱：inform@kratos.com.cn
Copyright © 2023 九一传媒公司制作网站半（bàn）導（dǎo）體（無錫）有限公司
網站建設：中企動力 無（wú）錫 | SEO
